在科研探索、材料研發(fā)、考古文博、電子制造等多領(lǐng)域，微觀結(jié)構(gòu)的完整性、孔隙分布、內(nèi)部缺陷等特征，直接決定研究方向、產(chǎn)品性能與成果價(jià)值。傳統(tǒng)微觀檢測(cè)依賴切片、打磨等破壞性手段，易造成樣品損壞、數(shù)據(jù)失真，難以還原微觀結(jié)構(gòu)的真實(shí)狀態(tài)，一款兼具無(wú)損檢測(cè)、高分辨成像、三維全域解析優(yōu)勢(shì)的X射線顯微CT，成為突破微觀觀測(cè)瓶頸、賦能多領(lǐng)域創(chuàng)新的核心裝備。
我們的X射線顯微CT，以“微影透視、無(wú)損精準(zhǔn)、全域適配”為核心定位，深度整合X射線發(fā)射、高精度探測(cè)、三維重構(gòu)等前沿技術(shù)，依托不同物質(zhì)對(duì)X射線的衰減差異原理，通過(guò)射線源發(fā)射X射線穿透樣品，探測(cè)器捕捉不同角度的衰減信號(hào)，經(jīng)計(jì)算機(jī)算法重構(gòu)三維數(shù)據(jù)體，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品從表面到內(nèi)部的觀測(cè)，契合ISO、ASTM等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，為多領(lǐng)域提供一站式微觀檢測(cè)與分析解決方案。
無(wú)損高分辨成像，還原微觀本真狀態(tài)。設(shè)備搭載高性能X射線源與制冷型探測(cè)器，分辨率可達(dá)0.5μm，可精準(zhǔn)捕捉亞微米級(jí)微觀細(xì)節(jié)，哪怕是細(xì)微孔隙、微小缺陷也能清晰呈現(xiàn)，檢測(cè)精度遠(yuǎn)超傳統(tǒng)微觀觀測(cè)設(shè)備。核心優(yōu)勢(shì)在于全程無(wú)損檢測(cè)，無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行切片、打磨等預(yù)處理，保留樣品原有結(jié)構(gòu)與完整性，避免破壞性檢測(cè)造成的研究誤差，尤其適配珍貴樣品、易損材料的微觀分析，讓每一處微觀特征都真實(shí)可溯。
三維全域解析，解鎖微觀深層價(jià)值。區(qū)別于傳統(tǒng)二維觀測(cè)的局限性，X射線顯微CT可實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)與多維度切片分析，生成清晰的三維可視化模型，支持任意方向、任意位置的切片觀測(cè)，同時(shí)可通過(guò)專(zhuān)業(yè)軟件進(jìn)行定量分析，精準(zhǔn)計(jì)算孔隙率、體積占比、缺陷尺寸等核心參數(shù)，實(shí)現(xiàn)“可視化觀測(cè)+定量化分析”雙重賦能，為科研探索與產(chǎn)品優(yōu)化提供科學(xué)量化依據(jù)，破解傳統(tǒng)檢測(cè)“只能看、不能算”的痛點(diǎn)。
智能便捷操控，提升微觀檢測(cè)效能。系統(tǒng)搭載交互式觸控操作界面，操作直觀易懂，無(wú)需專(zhuān)業(yè)人員復(fù)雜培訓(xùn)，一鍵即可啟動(dòng)掃描、成像、重構(gòu)全流程。支持多組掃描參數(shù)預(yù)設(shè)與存儲(chǔ)，可根據(jù)不同樣品特性（密度、尺寸）自定義掃描方案，同時(shí)配備散射降噪技術(shù)，有效抑制掃描過(guò)程中的噪音干擾，提升成像清晰度。掃描數(shù)據(jù)支持DICOM、STL等多種格式導(dǎo)出，可無(wú)縫對(duì)接后續(xù)分析軟件與PACS系統(tǒng)，便于數(shù)據(jù)復(fù)盤(pán)、共享與深度分析。
全域適配多場(chǎng)景，賦能多領(lǐng)域創(chuàng)新升級(jí)。設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì)，可靈活適配不同尺寸、不同類(lèi)型的樣品，涵蓋材料、生物、電子、考古等多個(gè)領(lǐng)域：科研領(lǐng)域，助力地質(zhì)巖石、生物組織的微觀結(jié)構(gòu)研究；材料領(lǐng)域，檢測(cè)復(fù)合材料、陶瓷等內(nèi)部缺陷與結(jié)構(gòu)分布；電子領(lǐng)域，排查芯片、元器件的內(nèi)部封裝隱患；考古領(lǐng)域，無(wú)需破損珍貴文物，即可透視陶片、器物內(nèi)部的隱秘痕跡，為考古研究提供新路徑；醫(yī)療科研領(lǐng)域，可用于骨組織等微觀結(jié)構(gòu)分析，助力相關(guān)研究突破。
匠心筑品守初心，精準(zhǔn)賦能啟新程。我們的X射線顯微CT采用工業(yè)級(jí)耐用材質(zhì)，經(jīng)過(guò)嚴(yán)苛的抗干擾、穩(wěn)定性測(cè)試，可適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室潔凈場(chǎng)景與復(fù)雜工業(yè)環(huán)境，運(yùn)行穩(wěn)定、使用壽命長(zhǎng)。以科技解鎖微觀密碼，以精準(zhǔn)賦能創(chuàng)新發(fā)展，助力科研工作者突破觀測(cè)瓶頸，推動(dòng)多領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)高質(zhì)量升級(jí)。
更新時(shí)間：2026-02-04
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