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產(chǎn)品中心少子壽命測(cè)試儀（MDP）MD picts溫度依賴型壽命測(cè)試系統(tǒng)
MD picts溫度依賴型壽命測(cè)試系統(tǒng)，可檢測(cè)電阻率高于 0.3 Ω cm的單晶硅與多晶硅，重要聚焦缺陷、少子壽命及光電導(dǎo)的溫度依賴型測(cè)量，同時(shí)可檢測(cè)硅中的污染物及電活性晶體中的缺陷，具備微波光電導(dǎo)衰減瞬態(tài)（μPCD）和穩(wěn)態(tài)（MDP）測(cè)量功能。
更新時(shí)間：2026-03-17
產(chǎn)品型號(hào)：MD picts
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