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產(chǎn)品分類
型號:X4 Poseidon
型號:D6 Phaser
型號:D8
型號:SKYSCAN 2214 CMOS版
型號:DPM100
型號:Skyscan1273
以用戶為中心 以人才為根本 努力實現(xiàn)你我共贏
束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應商。我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術(shù)能為我們的客戶帶來質(zhì)量較高的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。束蘊儀器為各類客戶提供完善的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設備,專業(yè)的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天、國家機關(guān)、檢驗機構(gòu)及工...
進一步提高公司的技術(shù)、質(zhì)量和服務
當“X射線”這個詞出現(xiàn)在實驗室設備的介紹中時,是否曾讓您心頭掠過一絲對輻射安全的隱憂?今天,我們將為您理清一個關(guān)鍵認知:廣泛應用于材料科學、制藥研發(fā)與工業(yè)質(zhì)檢的X射線衍射儀,其輻射安全水平究竟如何?答案可能比您想象的更為安心。首先,直接回應核心關(guān)切:根據(jù)國家《放射衛(wèi)生防護標準》,用于無損檢測和分析的X射線裝置有著嚴格的分類與管理要求。常規(guī)的實驗室級X射線衍射儀,因其設計上將射線嚴格限定在封閉的測角儀光路系統(tǒng)內(nèi),通常被歸類為低危害類別射線裝置。其工作功率雖可達3-9kW,但所有...
在材料研發(fā)與化學分析的前沿戰(zhàn)場,鍵長與鍵角是解讀物質(zhì)性能的核心密碼——它們決定了分子構(gòu)型、化學鍵強度,甚至材料的導電性、催化活性等關(guān)鍵特性。那么,如何精準捕捉原子間的“親密距離”與空間夾角?答案就在X射線衍射儀(XRD)的“透視”能力中:作為材料結(jié)構(gòu)分析的核心設備,它不僅能測定鍵長鍵角,更以原子級精度成為科研與工業(yè)領(lǐng)域的“結(jié)構(gòu)解碼師”。XRD測量鍵長鍵角的原理,植根于晶體對X射線的相干散射現(xiàn)象。當X射線照射晶體樣品時,原子規(guī)則排列的晶格會使射線發(fā)生衍射,形成特征衍射圖譜。通過...
在材料科學、生物醫(yī)學、電子制造等領(lǐng)域,微觀結(jié)構(gòu)的立體形態(tài)與內(nèi)部缺陷直接決定材料性能與產(chǎn)品可靠性,X射線三維顯微鏡憑借“非破壞性成像+高分辨率三維重構(gòu)”核心技術(shù),突破傳統(tǒng)二維檢測的局限,為科研與生產(chǎn)提供從表面到內(nèi)部的完整微觀結(jié)構(gòu)信息,成為洞察微觀世界的裝備。傳統(tǒng)微觀檢測技術(shù)如掃描電鏡(SEM)需對樣品進行切片處理,易破壞樣品結(jié)構(gòu)且無法呈現(xiàn)內(nèi)部形態(tài),而X射線三維顯微鏡基于“X射線吸收襯度+計算機斷層掃描(CT)”原理,實現(xiàn)無損檢測:高能量X射線穿透樣品,不同密度區(qū)域?qū)射線的吸收...
在半導體產(chǎn)業(yè)的精密制造鏈條中,晶圓檢測是保障芯片良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著芯片制程不斷向7nm及以下突破,對檢測技術(shù)的精度、效率提出了嚴苛要求。目前行業(yè)內(nèi)主流的晶圓檢測技術(shù)——光學檢測、電子束檢測及原子力顯微鏡檢測,憑借各自技術(shù)原理,在不同檢測場景中發(fā)揮著重要的作用,共同構(gòu)筑起晶圓質(zhì)量的“防護網(wǎng)”。光學檢測技術(shù)以“光的傳播與交互”為核心原理,是晶圓檢測中應用廣泛的基礎(chǔ)技術(shù)。其本質(zhì)是通過高分辨率光學系統(tǒng)向晶圓表面發(fā)射特定波長的光束,利用光的反射、折射、散射及干涉特性捕捉晶圓信息。當光...
在材料科學、化學、制藥、地質(zhì)、新能源等前沿領(lǐng)域,深入理解物質(zhì)的微觀晶體結(jié)構(gòu)是推動研發(fā)、控制品質(zhì)、發(fā)現(xiàn)新知的核心。粉末X射線衍射儀,正是開啟這扇微觀世界大門的金鑰匙。它通過分析材料對X射線的衍射圖譜,非破壞性地揭示物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、結(jié)晶度、晶粒尺寸、應力狀態(tài)等關(guān)鍵信息,是科研與工業(yè)領(lǐng)域的精密分析工具。一、核心原理:一束X光,解開微觀世界的密碼當一束單色X射線照射到粉末樣品上時,樣品中無數(shù)隨機取向的微小晶體會在各個方向上產(chǎn)生衍射。通過探測和記錄這些衍射X射線的方向(角度)...
在半導體、材料科學等前沿領(lǐng)域的微觀表征中,高分辨X射線顯微鏡憑借其穿透性強、無損檢測的優(yōu)勢,成為解析微觀結(jié)構(gòu)的核心設備??臻g分辨率、襯度靈敏度及成像視野作為衡量其性能的三大核心指標,直接決定檢測數(shù)據(jù)的精準度與應用價值。這些指標的表現(xiàn)并非孤立存在,而是受X射線源特性、光學系統(tǒng)設計、探測器性能等多重因素協(xié)同影響,深入理解其關(guān)聯(lián)機制是精準選型與高效應用的關(guān)鍵??臻g分辨率作為表征設備“看清微觀細節(jié)”能力的核心,主要受X射線源波長與光學系統(tǒng)聚焦能力主導。根據(jù)衍射極限原理,X射線波長越短...
Lexsyg儀器助力解開西班牙千年古跡年代之謎!SantalladeBóveda建筑年代終揭曉【研究背景】西班牙盧戈省的SantalladeBóveda紀念碑因其神秘的羅馬風格壁畫與建筑結(jié)構(gòu),近百年來引發(fā)學界對其年代與功能的激烈爭論。近期,國際研究團隊通過lexsygresearch等端儀器,實現(xiàn)了對建筑灰燼與磚塊的解開測年,研究成果發(fā)表于國際有名期刊。【技術(shù)突破】研究團隊創(chuàng)新性采用光釋光(OSL)、熱釋光(TL)與碳14測年技術(shù)聯(lián)用方案:1、通過lexsygresearch...
晶體結(jié)構(gòu)決定材料的物理化學性能,D8X射線衍射儀作為核心分析設備,憑借“高分辨率衍射+多功能分析”優(yōu)勢,精準測定晶體的物相組成、晶格參數(shù)、結(jié)晶度等關(guān)鍵信息,廣泛應用于材料研發(fā)、地質(zhì)勘探、醫(yī)藥研發(fā)等領(lǐng)域,成為解碼晶體結(jié)構(gòu)的工具。傳統(tǒng)X射線衍射儀存在分辨率低、掃描速度慢等問題,難以滿足復雜晶體結(jié)構(gòu)的分析需求。D8X射線衍射儀采用“高精度測角儀+智能X射線光學系統(tǒng)”架構(gòu),實現(xiàn)性能突破:測角儀精度達0.0001°,確保衍射峰定位精準;配備多層膜單色器與聚焦鏡,有效過濾雜散射線,提升衍...
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